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    Scigentec Calpas T

    粒子經(jīng)過單探頭時(shí),粒子背面的黑點(diǎn)無法被攝像頭“看”到,對(duì)于追求粒子表面所有黑點(diǎn)數(shù)量的客戶,Calpas T雙探頭型樹脂雜質(zhì)掃描儀值得了解。

    Calpas T-雙探頭

    適合:

    所有種類的粒子檢測-半透明、透明、不透明

    自帶挑選功能

    立即預(yù)定

    聯(lián)系我們:

    徐先生

    13801777130

    021-61455229

    adam@eutin.cn

    產(chǎn)品簡介

    Calpas T-雙探頭

    適合:

    粒子檢測-半透明、透明、不透明

    可帶挑選功能

    用其它方式測量粒子的外觀,粒子在經(jīng)過攝像頭時(shí),并不能100%保證粒子全身都能被攝像頭覆蓋,而Calpas T解決了這個(gè)問題。

    技術(shù)參數(shù)

    Calpas T-雙探頭

    詳細(xì)參數(shù)請(qǐng)與我司聯(lián)系獲取

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    應(yīng)

    識(shí)

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